简介:UM-5彩屏A/B扫超声波测厚仪彩色实时A/B扫描，过零测量技术，可设置增益、消隐、闸门、范围、延时、射频、倒向射频、正半波、负半波、全波、更新率、B扫描最大/最小值等多种参数，耦合或报警时厚度值和波形颜色动态改变。

简介:UM-5D穿透涂层超声波测厚仪包含UM-5的所有特性，增加回波-回波测量模式，用于穿透涂层测量基材厚度，标配TC510穿透涂层专用探头。

简介:UM-5DL大容量穿透涂层超声波测厚仪包含UM-5D的所有特性，增加大容量数据记录器（可存储10万个厚度值和1000幅波形），随机包含通讯软件及USB通讯电缆，标配TC510穿透涂层专用探头。

简介:UM-4D穿透涂层超声波测厚仪包含UM-4的所有特性，增加回波-回波测量模式，用于穿透涂层测量基材厚度，标配TC510穿透涂层专用探头。

简介:UM-4DL超大容量穿透涂层超声波测厚仪包含UM-4D的所有特性，增加大容量数据记录器（可存储10万个厚度值），随机包含通讯软件及USB通讯电缆，标配TC510穿透涂层专用探头。

简介:UM-4A扫描快照超声波测厚仪真彩320×240点阵高分辨率显示器，A-扫描快照，过零测量技术，增益三档可调，最大/最小值捕获，差值/缩减率模式，高/低限报警，内置多种探头补偿线，厚度值颜色伴随耦合或报警而动态改变。

简介:UM-3高精测厚仪采用15MHz单晶延迟探头，0.001mm超高分辨率，界面波-回波模式，回波-回波模式。

简介:UM-2超声波测厚仪包含UM-1的所有特性，0.01mm高分辨率，内置7种探头补偿线。

简介:UM-2D穿透涂层测厚仪包含UM-2所有特性，增加回波-回波测量模式，用于穿透涂层测量基材厚度。

简介:UM-1超声波测厚仪0.1mm分辨率，128×64点阵图形液晶屏，可存储500个厚度值，高/低限报警，最小值捕获，两点校准，V路径校正，毫米/英寸，EL背光，中/英文界面。