X射线荧光法光谱涂镀层测厚仪FISCHERSCOPE® X-RAY XULM

FISCHERSCOPE X-RAY

主要特点：
FISCHERSCOPE® X-RAY XULM是一款应用于广泛的能量色散型X射线光谱仪，它结构紧凑，小巧耐用。它们十分适用于无损测量细小零部件上镀层厚度和成分分析。
为了使每次测量都能在最优的条件下进行，XULM配备了可电动调整的多重准直器及基本滤片。
比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。由于采用了菲希尔的基本参数法，无论是镀层系统还是固体和液体样品，都能在没有标准片的情况下进行准确分析和测量。可测量的元素范围从氯（17）到铀（92）。
XULM型X射线光谱仪有着出色长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器了。
本款仪器特别适合在质保、来料检验和过程控制等领域中使用

典型的应用领域有：
十分微小零部件、接插件和线材上镀层厚度的测量
印刷线路板上手动测量
珠宝手表业中的镀层厚度测量及成分分析

设计理念
FISCHERSCOPE® X-RAY XULM设计为界面友好、结构紧凑的台式测量仪器系列。根据使用用途，有以下两种不同版本型号，分别对应不同样品平台
XULM：固定平面平台
XULM XYm：手动X/Y平台
高分辨的彩色视频镜头配以强大的放大功能，可以精确定位测量位置。
尽管仪器本身结构紧凑，但是由于XULM光谱仪配备了宽敞的测量室，从而可以测量更大体积的样品。
外罩底部留下了空隙，可方便的测量超出测量室大小的大尺寸扁平样品，如大面积的印制线路板等。
通过强大而界面友好的WinFTM®软件，可以再电脑上便捷的完成整个测量过程，包括测量结果的数据分析和所有相关信息的显示等。
XULM型光谱仪是型式许可符合德国“Deutsche Rontgenverordnug-RoV”法令要求的，有完善防护措施的测量仪器。

通用规范
用途:能量色散X射线荧光光谱仪（EDXRF）用于测量镀层厚度和材料分析
可测量元素范围：从氯（17）到铀（92），如使用选配的WinFTM®BASIC，可最多同事测量24种元素
设计理念：桌上仪器，向上开启舱门
测量方向：由下向上

X射线源
X射线靶材：带铍窗口的微聚焦钨管
高压：三种可调高压：30kV，40 kV，50 kV
孔径（准直器）：4个可切换准直器
标准型（523-440）：圆形￠0.1mm，￠0.2mm；矩形0.05mm×0.05mm；0.2mm×0.03mm
可选（523-366）：圆形￠0.1mm，￠0.2mm，￠0.3mm；矩形0.3mm×0.05mm
可选（523-061）：圆形￠0.1mm，￠0.2mm；矩形0.3mm×0.05mm；0.05mm×0.05mm
        可按要求定制其它规格
基本滤波片：3种可切换的基本滤片（标准型：镍，无，铝）
测量点大小：取决于测量距离和使用的孔径大小，视频窗口中显示的就是实际的测量点尺寸，使用矩形0.05mm×0.05mm准直器，最小的测量点面积约为￠0.1mm
测量距离，如样品为腔体时：0-20mm，校准范围，使用专利保护的DCM功能
                          20-27.5mm，非校准范围，使用专利保护的DCM功能

X射线探测器
X射线接收器：比例计数器
二次滤波器：可选：钴滤波器或镍滤波器

样品定位
视频显微镜：高分辨CCD彩色摄像头，可用来观察测量位置
            十字线带有刻度尺和测量点大小经过校准
            测量区域的LED照明亮度可调节
放大倍数：38x-184x（光学变焦：34x-46x；数字变焦：1x，2x，3x，4x）

样品平台
 

电气参数
线电压，频率   AC 115V或AC 230V 50/60Hz
能耗           最大为120W（测量头重量，不包括计算机）
保护等级       IP40

FISCHERSCOPE® X-RAY XUL®
尺寸大小
 

环境条件要求
 

计算单元
 

执行标准
 

订购号