X射线荧光法光谱涂镀层测厚仪FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM® 237

FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM® 237
X射线荧光光谱仪，采用手动或自动方式，测量和分析印刷线路板、电气元件及大规模生产的零部件上的镀层。

FISCHERSCOPE X-RAY
简介：
FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®是一款应用于广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪，它是从大众认可的FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-C4型仪器上发展而来的。与上一代相类似，它尤其适合无损测量镀层厚度及材料分析，同时还能全自动测量大规模生产的零部件及印刷线路板。
比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。为了使每次测量都能在最优的条件下进行，仪器配备了可电动调整的多个准直器及基本滤片。
由于采用了基本参数法，无论是镀层系统还是固体和液体样品，都能在没有标准片的情况下进行准确分析和测量。最多可同时测量的从氯（17）到铀（92）中的24种元素。
XDLM型X射线光谱仪有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器了。
XDLM系列仪器专门是为测量分析极薄镀层和超小含量而设计。仪器配备高速可编程X/Y平台，它是质量控制和生产监控的自动测量过程的最合适的测量仪器。

典型的应用领域有：
测量大规模生产的零部件
测量微小区域上的薄镀层
测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
全自动测量，如测量印刷线路板

设计理念
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM设计为界面友好的台式测量仪器系列。它们都有可调的Z轴升降系统，但是样品平台不同。XDLM231型的载物台为固定式平台。
XDLM232型配有可手动操控的X/Y平台。XDLM237型则配备了马达驱动的X/Y工作台。当保护门开启时，工作台会自动移到放置样品的位置。所有型号都配备了激光点，可辅助定位并快读对准测量位置。通过视频窗口，还可以实时观察视频摄像头测量过程和进度。位置的精确微调可以直接手动调整仪器或摇杆，或通过操作鼠标和键盘来实现。

所有的操作，测量数据的计算，以及测量数据报表的清晰显示都是通过强大而界面友好的WinFTM® 软件在电脑上完成的。
XDLM型光谱仪是安全而保护全面的测量仪器，型式许可符合德国“DeutscheRöntgenverordnung-RöV”法规规定。

通用规范
用途：能量色散X射线荧光光谱仪（EDXRF）用于测量镀层和微小结构，分析合金和微量组分。
元素范围：最多同时测量从氯（CI17）到铀（U92）之间的24种元素
设计理念：台式仪器，测量门向上开启
          马达驱动的可更换的准直器和基本滤片
          视频摄像头和激光点定位测量点
          Z轴电调，可编程
测量方向：从上到下

X射线源
X射线源：带铍窗口的微聚焦钨管
高压：三种高压：30kV，40 kV，50 kV，可调整
孔径（准直器）：4个可切换准直器：圆形￠0.1mm；￠0.2mm；0.05×0.05mm方形0.05×0.05mm（可按要求定制其它规格）
基本滤片：3种可更改的基本滤片（标准配置:镍，铝，无）
测量点：取决于测量距离及使用的准直器的大小，实际的测量点大小与视频窗口中显示的一致。最小的测量点大小约为￠0.09×0.09mm
测量距离，（如腔体内部测量）：20-80mm，使用专利保护的DCM（测量距离补偿法）功能
测量距离为0-20mm时，为已校准范围
测量距离为20-80mm时，为非校准范围
X射线探测器
X射线接收器：比例接收器

样品定位
视频显示系统：高分辨CCD彩色摄像头，用于查看测量位置
              手动调焦或自动聚焦
              十字线刻度和测量点大小经过校准
              测量区域的LED照明亮度可调节
              激光点用于精确定位样品
放大倍数：20x-180x（光学变焦：20x-45x；数字变焦：1x，2x，3x，4x）

样品台
 

FISCHERSCOPEX-RAY XDLM
电气参数
 

仪器规格
 

环境条件要求
 

计算系统
 

执行标准
 

订购号