X射线荧光法光谱涂镀层测厚仪FISCHERSCOPE® X-RAY XDL
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FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 210
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 220
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 230
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 240
X射线光谱仪,采用手动或自动方式,测量和分析印刷线路板、防护及装饰性镀层及大规模生产的零部件上的镀层。
FISCHERSCOPE X-RAY
简介:
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL®是一款应用于广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪,它是从大众认可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B型仪器上发展而来的。与上一代相类似,它尤其适合无损测量镀层厚度及材料分析,同时还能全自动测量大规模生产的零部件及印刷线路板。
比例接收器能实现高计数率,这样就可以进行高精度测量。由于采用了菲希尔的基本参数法,无论是镀层系统还是固体和液体样品,都能在没有标准片的情况下进行准确分析和测量。可测量的元素范围从氯(17)到铀(92)。
XDL型X射线光谱仪有着良好的长期稳定性,这样就不需要经常校准仪器了。
XDL系列仪器特别适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。
典型的应用领域有:
测量大规模生产的电镀部件
二两薄镀层,例如装饰铬
测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
全自动测量,如测量印刷线路板
分析电镀溶液
设计理念
FISCHERSCOPE X-RAY XDL设计为界面友好、结构紧凑的台式测量仪器系列。我们会根据平台的运行模式以及固定或者可调节的Z轴系统来设定不同型号的仪器以满足实际应用 的需求。
XDL210:平面样品平台,固定的Z轴系统
XDL220:平面样品平台,马达驱动的Z轴系统
XDL230:手动操作的X-Y样品平台,马达驱动的Z轴系统
XDL240:马达驱动的X-Y样品平台,当测量门打开时,工作台会自动移到放置样品的位置;马达驱动的Z轴系统,可编程运行,可用两种速度运行。
高分辨的彩色视频镜头配以强大的放大功能,可以精确定位测量位置。通过视频窗口,还可以实时观察测量过程和进度。配有手动或者马达驱动X-Y样品平台的仪器还配备了激光点,可以辅助定位并快速对准测量位置。
测量箱底部的开槽转为大而扁平的样品设计,可以测量比测量箱更长和更宽的样品,例如大型的线路板。
所有的操作,测量数据的计算,以及测量数据报表的清晰显示都是通过强大而界面友好的WinFTM?然间在电脑上完成的。
XDL型光谱仪是安全而保护全面的测量仪器,型式许可符合德国“Deutsche Rontgenverordnug-RoV”法规规定。
通用规范
用途:能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF)用于测量镀层和微小结构,分析合金和微量组分
元素范围:从氯(17)到铀(92),如使用选配的WinFTM?BASIC,可最多同事测量24种元素
设计理念:台式仪器,测量门向上开启
测量方向:由上向下
X射线源
X射线源:带铍窗口的钨靶射线管
高压:三种可调高压:30kV,40 kV,50 kV
孔径(准直器):¢0.3mm,(可选:圆形¢0.1mm;¢0.2mm;长方形0.3mm×0.05mm)
测量点:取决于测量距离及使用的准直器的大小,实际的测量点大小与视频窗口中显示的一致。最小的测量点大小约为¢0.16mm
测量距离,(如腔体内部测量):使用专利保护的DCM(测量距离补偿法)功能
测量距离为0-20mm时,为已校准范围
测量距离为20-80mm时,为非校准范围
X射线探测器
X射线接收器:比例计数器
样品定位
视频显示系统:高分辨CCD彩色摄像头,可于查看测量位置
手动调焦或自动聚焦
带刻度的十字线及测量点指示
测量区域的LED照明亮度可调节
激光点用于精确定位样品
放大倍数:20x-180x(光学变焦:20x-45x;数字变焦:1x,2x,3x,4x)
样品台
电气参数
尺寸大小
环境条件要求
计算系统
执行标准
订购号
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